PLL的可靠度研究

caroline11

在CMOS IC中较为常見的是在MOS元件上闸氧化层上的问题，一般我们称之为Defect（缺陷），这个原因在IC刚被制造出來时很难被发现的，直到过了一段时间才会因为这个缺陷使得闸氧化层损毁使得电路的执行效率大大地减低。