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可测试性设计（边界扫描、MBIST、scan chain）

FPGA/DSP FPGA/DSP 668 人阅读 | 0 人回复 | 2021-11-12

这是关于可测试性设计相关的资料，比如边界扫描、MBIST、scan chain。从知网空间下载的几篇代表性的论文，有需要的可以看下。
目录如下：

eetop.cn_可测试设计.zip

1.97 MB, 下载次数: 3
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